การทดสอบและวิเคราะห์จุดเสียในวงจรอิเล็กทรอนิกส์ / ชูชัย ธนสารตั้งเจริญ
| Main Author: | ชูชัย ธนสารตั้งเจริญ |
|---|---|
| Format: | MONOGRAPHS |
| Language: | Thai |
| Published: |
กรุงเทพฯ : ฟิสิกส์เซ็นเตอร์, 2535 |
| Subjects: |
ดิจิตอลอิเล็กทรอนิกส์
วงจรขยายเชิงดำเนินการ วงจรอิเล็กทรอนิกส์ |
| Tags: |
Add
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| LEADER | 01251nam a2200193 a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 0010910 | ||
| 003 | Th-MUT | ||
| 008 | 181106s2535 xx 000 0 tha d | ||
| 040 | |a DLC |c MUT | ||
| 050 | 4 | |a TK7867 |b ช72ก64 | |
| 100 | 0 | |a ชูชัย ธนสารตั้งเจริญ | |
| 245 | 1 | 0 | |a การทดสอบและวิเคราะห์จุดเสียในวงจรอิเล็กทรอนิกส์ |b / |c ชูชัย ธนสารตั้งเจริญ |
| 260 | |a กรุงเทพฯ : |b ฟิสิกส์เซ็นเตอร์, |c 2535 | ||
| 300 | |a 208 หน้า : |b ภาพประกอบ ; |c 26 ซม. | ||
| 500 | |a Old book ติดต่อฝ่าย catalog , ภาคผนวก | ||
| 650 | 7 | |a ดิจิตอลอิเล็กทรอนิกส์ | |
| 650 | 7 | |a วงจรขยายเชิงดำเนินการ | |
| 650 | 7 | |a วงจรอิเล็กทรอนิกส์ | |
| 991 | |a MONOGRAPHS |b 6 |c 2018-11-07 16:49:36 |d 2021-10-27 14:39:14 |e mut |f n |g null |h n |i a |j m |k |l a |m |n a |o |p b |q |r th |s tha |t 2535 |v การทดสอบและวิเคราะห์จุดเสียในวงจรอิเล็กทรอนิกส์ / | ||